Установка для роста монокристаллов карбида кремния диаметром 4 или 6 дюймов

Установка предназначена для выращивания объемных монокристаллов карбида кремния методом сублимации (метод ЛЭТИ). На данной установке можно выращивать кристаллы от 4 до 6 дюймов. Сублимационный метод основывается на конденсации пересыщенного пара на монокристалл-затравку.

Установка для роста монокристаллов карбида кремния - НПК

Размеры
Ширина, мм 1800
Глубина, мм 1540
Высота, мм 2740
Максимальная занимаемая площадь (в том числе зона обслуживания), м2 9

Электрические параметры

4

6

Максимальная мощность источника питания, кВА

80

Номинальное напряжение питающей сети, В

380

Номинальная частота, Гц

50(60)

Число фаз линии электропередач

3

Потребляемая мощность при росте кристалла, кВт

36

52

Точность стабилизации мощности в цепи нагрева, %

0,1

Метод нагрева

Резистивный

Физические и механические параметры кристаллов карбида кремния

Физические и механические параметры
Максимальная рабочая температура горячей зоны, °С 2350
Точность поддержания температуры горячей зоны, °С ± 1
Предельное остаточное давление «холодной» установки, Па 2∙10-3
Максимальная скорость потока легирующего газа (N2), л/ч 0,9
Максимальная скорость потока инертного газа (Ar), л/ч 9 (360)
Погрешность регулирования расхода газа, % 0,1
Диапазон рабочих скоростей тигля во время роста, мм/ч 0,3 — 30
Скорость вращения тигля, об/мин 1-4
Расход охлаждающей воды при номинальной температуре печи, м3 6

Карбид кремния является одним из наиболее перспективных материалов для высокотемпературной, радиационно-стойкой, силовой и быстродействующей электроники, так как обладает уникальными физическими и электронными свойствами. К этим свойствам относятся: широкая запрещенная зона (примерно в три раза больше, чем у кремния), высокое критическое поле лавинного пробоя (приблизительно в 10 раз больше, чем у кремния), высокая насыщенная скорость дрейфа электронов (в 2,5 раза больше, чем в кремнии и арсениде галлия), высокая термическая стабильность, химическая инертность и т.д.

Параметры получаемых кристаллов и пластин

Политип

4H, 6H

Политипная однородность, %

100

Диаметр, мм

100-150

Толщина в центральной точке, мм

18 — 25

Тип проводимости

n

Легирующая примесь

азот (N2)

Удельное сопротивление, Ом∙м

0.0001 – 0.01

Плотность микропор, см-2

≤ 5

Плотность дислокаций, см-2

≤ 4∙103

Примеры получаемых кристаллов и пластин

Другое оборудование и системы управления НПК "СПЕКТР"